產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
激光粒度分析儀
納米粒度電位儀系列
真空封管機(jī)系統(tǒng)
CHI600E系列通用電化學(xué)工作站
微納3D打印機(jī)
常溫壓電d33測試儀
磁控離子濺射儀
Energylab XM 電化學(xué)工作站
VersaSCAN微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
Bruker Hysitron Tl 980納米壓痕儀
IM4000Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀
材料試驗(yàn)機(jī)
CHI760E系列電化學(xué)工作站
GVC-3000熱蒸發(fā)鍍碳儀
1470 celltest電化學(xué)測試系統(tǒng)
VibroMet2振動(dòng)拋光機(jī)
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心分析表征設(shè)備形貌成分表征
系統(tǒng)配置豐富，高分辨θ/θ閉環(huán)測角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、多位自動(dòng)換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)和二維陣列半導(dǎo)體探測器，配合功能齊全的控制和分析軟件，可在室溫和變溫條件下實(shí)現(xiàn)覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規(guī)衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測量，可執(zhí)行高精度全自動(dòng)物質(zhì)結(jié)構(gòu)測試分析任務(wù)
更新時(shí)間：2024-11-18
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：411
